產(chǎn)品分類(lèi)
KPFM&EFM 測試樣品
所屬分類(lèi)：
產(chǎn)品詳情
KPFM&EFM 測試樣品
KPFM and EFM test sample
荷蘭M2N供應的KPFM & EFM測試樣品專(zhuān)為評估開(kāi)爾文探針力顯微術(shù)（Kelvin Probe Force Microscopy, KPFM）和靜電力顯微術(shù)（Electrostatic Force Microscopy, EFM）的成像性能而設計。該標準樣品采用氧化硅覆蓋硅基底（SiO?/Si）的微納加工工藝，由交替排列的鋁（Al）和金（Au）金屬線(xiàn)陣列構成。其結構特征如下：
①線(xiàn)寬周期：4、8、20及40 μm四組陣列
②線(xiàn)間間隙：0.5-0.8 μm（亞微米級間隔）
③線(xiàn)結構高度：約35 nm（通過(guò)臺階儀或原子力顯微術(shù)（AFM）標定）
2. 多層堆疊結構：
①基底架構：硅芯片（搭載金屬線(xiàn)陣列）→ ?12 mm玻璃載片 → ?15 mm金屬載盤(pán)
②總厚度：1.5 mm（符合標準樣品臺兼容性要求）
3. 電學(xué)連接設計：Al/Au電極通過(guò)超薄銅導線(xiàn)（thin-film Cu interconnects）引出至外圍焊盤(pán)，支持樣品表面電勢的接觸式測量校準。
KPFM & EFM測試樣品可以實(shí)現：
①KPFM功函數對比度測試（Al/Au功函數差異~1.1 eV）
②EFM空間分辨率驗證（亞微米間隙的靜電梯度場(chǎng)檢測）
③探針靈敏度的橫向/縱向定量標定
注：使用前建議通過(guò)掃描電子顯微術(shù)（SEM）或光學(xué)顯微術(shù)（OM）進(jìn)行微區定位，并依據ISO 17025標準進(jìn)行儀器校準。
KPFM & EFM測試樣品技術(shù)規格如下：
具有鋼結構工程專(zhuān)業(yè)承包二級資質(zhì)、建筑工程施工總承包貳級資質(zhì)；公司主營(yíng)產(chǎn)品包括重鋼、輕鋼、網(wǎng)架及檁條、彩鋼板等鋼結構產(chǎn)品；近年來(lái)，公司承接了國內外大型結構件、橋梁、車(chē)庫、標準化廠(chǎng)房等具有較大影響力的一系列項目；產(chǎn)品遠銷(xiāo)白俄羅斯、贊比亞、印尼等國家，得到了一致好評。
關(guān)鍵詞： KPFM&EFM 測試樣品
相關(guān)產(chǎn)品
產(chǎn)品咨詢(xún)