產(chǎn)品分類(lèi)
K-kit 液體樣品腔芯片
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產(chǎn)品詳情
K-kit 液體樣品腔芯片
K-kit wet cell liquid TEM sample holder chamber
K-kit是運用最新的MEMS技術(shù),由硅和氮化硅薄膜制成的將微通道、超薄氮化硅薄膜觀(guān)測窗一體成型的液體樣品腔芯片,不僅可以實(shí)現液體樣品TEM原位觀(guān)察,也適用于 SEM 及 EDX 分析,具有方便使用、檢測快速及適用性高等特點(diǎn)。通過(guò)K-kit技術(shù),可以幫助科研人員實(shí)現高質(zhì)量的液體樣品原位電鏡影像觀(guān)測,對納米材料在原溶液中的真實(shí)外觀(guān)、尺寸分布、以及群聚團聚等現象進(jìn)行完整分析。
K-kit是一種使用便捷的創(chuàng )新型液體樣品腔,在兩個(gè)氮化硅薄膜之間有一個(gè)可密封的微通道。K-kit與一組專(zhuān)用工具一起,使用起來(lái)很簡(jiǎn)便,每個(gè)K-kit都裝有一個(gè)單孔環(huán)銅載網(wǎng),用于安裝密封的液體樣品池?;蛘咭部梢园惭b在可選的和可重復使用的 K-kit雙聯(lián)載網(wǎng) (Folding Grid)中。
Folding Grid是一個(gè)類(lèi)似雙聯(lián)環(huán)似的可開(kāi)合式銅網(wǎng),使用時(shí)只要將K-kit直接置入該銅網(wǎng),封合好即可放置于任何一款TEM樣品桿上進(jìn)行電鏡觀(guān)察,免去涂膠固定環(huán)節,可避免因黏附銅網(wǎng)不良而造成的制樣失敗,從而使K-kit的使用變得更加方便和快速。每一枚Folding Grid可以反復使用至少4次以上。
使用專(zhuān)用工具的簡(jiǎn)單步驟

K-kit 采用獨特的單體式構造(Unibodystructure)設計,是一次性使用的,無(wú)交叉污染問(wèn)題,且使用前無(wú)須對芯片進(jìn)行包括清潔、表面處理、組裝等繁瑣的前置步驟。藉由毛細力載入液體,效果穩定可靠,無(wú)論高黏性、或是油性樣品,大多可直接載入,無(wú)須稀釋?zhuān)奢d入粘滯系數大于3000mPa-s的溶液)。
K-kit液態(tài)樣品腔的結構示意圖

氮化硅膜是電子透明的??蛇x30或100nm膜厚。100 nm膜更堅固,僅適用于TEM應用。30nm膜用于高分辨率成像和掃描電鏡應用。 兩個(gè)矩形氮化硅窗口間的微通道能夠對懸浮在水溶液中的納米顆粒進(jìn)行成像和分析。氮化硅窗口的大小為300μm x 25μm,通道高度為0.1, 0.2, 0.5, 1, 2 和 5μm。微通道的內部涂有氮化硅。 K-kit也可以在干燥模式下使用。懸浮顆粒在K-kit微通道中干燥,以避免懸浮液中的液滴在支撐膜上干燥時(shí)發(fā)生團聚現象。
K-kit濕樣品腔的特點(diǎn)和優(yōu)勢:
1. 易于使用的液態(tài) TEM 樣品密封腔芯片,適用于水性懸浮液樣品
2. 低成本替代非常昂貴的TEM原位液體樣品桿
3. 氮化硅膜的厚度可選:30或100nm
4. 微通道高度可選:0.1, 0.2, 0.5, 1, 2 和 5μm,最常用的是0.2μm和2μm通道。
5. 在25-30 kV成像條件下,30nm氮化硅膜和與FESEM系統配套的STEM探測器兼容。
6. 可選可重復使用的和免膠的雙聯(lián)載網(wǎng),用于固定k-kit液體樣品池
7. 可用于EDS分析
8. 提供完整的專(zhuān)用制備工具套件
9. 干態(tài)模式可用于納米顆粒的定量分析
適用于各廠(chǎng)牌TEM樣品桿
K-kit芯片是由通用的TEM標準銅環(huán)作承載,因此可適用所有廠(chǎng)牌包括Hitachi、FEI、JEOL等的電子顯微鏡設備來(lái)直接作觀(guān)測。
K-kit vs. TEM銅網(wǎng)

上圖是使用 K-kit(濕式狀態(tài))與傳統 TEM 銅網(wǎng)(干燥狀態(tài))觀(guān)察未經(jīng)稀釋的化學(xué)機械研磨溶液 (CMP Slurry) 的 TEM 影像結果的影像分析比較結果,很明顯的,若采用銅網(wǎng)來(lái)觀(guān)測,納米粒子會(huì )因干燥作用嚴重聚集,而無(wú)法針對該團聚粒子進(jìn)行任何定性與定量分析。
K-kit vs. 原位樣品桿
良好的耐溶劑性能
K-Kit可用于多種溶液和溶劑。下表為各類(lèi)溶劑浸泡 Torr Seal 膠(用于密封微通道的膠水) 24小時(shí)之后,其FTIR 量測分析(是否有溶解反應)及目視觀(guān)察(是否于溶劑內散布)結果。

K-kit的應用
K-kit可用于樣品需要以天然液體形式進(jìn)行TEM表征的的許多應用中。 納米顆??梢栽谧匀粻顟B(tài)下成像,也可以觀(guān)察到原位動(dòng)態(tài)物理反應或化學(xué)反應。應用范圍廣泛,從材料,生命,化學(xué)和生物科學(xué),電子業(yè)的材料品管監測(如檢測CMPSlurry內粒子尺寸及分散情形)、生醫領(lǐng)域的納米新藥開(kāi)發(fā)與病理研究、飲料及食品內添加劑的分析、以及日常用醫療或美容產(chǎn)品(如防曬乳或含納米成份的化妝水)成份檢驗等,皆可使用K-kit來(lái)達到快速檢測目的。


(實(shí)例) K-kit的TEM圖像質(zhì)量很好。如上圖所示,本例使用薄膜厚度30nm、通道高度0.2μm的K-kit,可清楚觀(guān)測到其內氯金酸(AuCl4)溶液與電子束作用所反應生成的納米金顆粒及其表面晶網(wǎng)格線(xiàn)。(FEI Talos TEM@200KV)

(實(shí)例)上圖為多壁碳納米管(WMCNT; Multi-walled Carbon Nanotubes)于純水中的分散狀況。本例使用薄膜厚度30nm、通道高度2μm的K-kit,可清楚觀(guān)測到碳納米管的復壁多層結構。(By Hitachi HT7700 TEM @100KV;WMCNTs: OD 30-80 nm, Length <10 μm,10wt%)
為什么選擇K-Kit?
- K-kit在產(chǎn)業(yè)應用方面有下列優(yōu)勢特點(diǎn):
- 使用簡(jiǎn)單、分析快速、性?xún)r(jià)比高
- 適用于所有廠(chǎng)牌的 TEM 樣品桿
- 可用于TEM和SEM 觀(guān)測
- 可應用在各種常見(jiàn)化學(xué)溶液分析
- 無(wú)交叉污染問(wèn)題(一次性使用)
- 可實(shí)現粒子分布的量化分析
- 可應用于高粘性液體(粘滯系數> 3,000mPa-s,毛細管吸力載入)
- 可進(jìn)行負染(低對比度納米粒子的觀(guān)察)及多次加載溶液(例如觸媒反應機制、或免疫檢測技術(shù)開(kāi)發(fā))
- 應用適用溫度范圍 -196°C - 120°C
- 可進(jìn)行EDX及TEM晶格繞射分析
- 樣品可長(cháng)期保存及重復觀(guān)測
具有鋼結構工程專(zhuān)業(yè)承包二級資質(zhì)、建筑工程施工總承包貳級資質(zhì);公司主營(yíng)產(chǎn)品包括重鋼、輕鋼、網(wǎng)架及檁條、彩鋼板等鋼結構產(chǎn)品;近年來(lái),公司承接了國內外大型結構件、橋梁、車(chē)庫、標準化廠(chǎng)房等具有較大影響力的一系列項目;產(chǎn)品遠銷(xiāo)白俄羅斯、贊比亞、印尼等國家,得到了一致好評。
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